확장된 측정 범위를 갖춘 J257
| Accuracy : | ±0.0001 RI, ±0.1 BRIX |
| Resolution : | Refractive index 0.0001(Standard), 0.00001 (Optional) |
| BRIX 0.1(Standard), 0.01 (Optional) | |
| Measurement Range: | 1.26 – 1.72 RI, 0 – 100 BRIX |
확장된 측정 범위를 갖춘 다재다능한 굴절계(REFRACTOMETER) J257
Versatile Refractometer – J257 with Extended Measurement Range
다재다능한 굴절계인 Rudolph Research J257은 폴리머, 석유, 석유화학, 제약 및 에센셜 오일 산업의 실험실 굴절계 사용자들과의 협업을 통해 개발되었습니다. J257은 전자 냉각 및 가열 기능을 갖춘 완전 자동 디지털 굴절계로, 사용자의 편의성을 극대화 하였으며 또한, 확장된 굴절률(RI) 측정 범위를 제공하여 다양한 샘플에 대한 정밀한 분석이 가능합니다. J257은 Rudolph Research의 굴절계 제품 라인의 중요한 일환으로, 혁신적인 기술과 신뢰성을 자랑합니다.
- 광범위한 응용 분야를 위한 디지털 굴절계
- 자동 디지털 굴절계 작동
- 읽기 쉬운 LCD 인터페이스 탑재
- 다양한 데이터 저장 옵션.
- 듀얼 온도 제어 시스템
- 다양한 데이터 저장 옵션.
Featrues
확장된 측정 범위를 갖춘 다재다능한 굴절계 J257
다양하고 광범위한 응용 분야를 위한 디지털 굴절계
Rudolph Research의 J257은 광범위한 굴절률(RI) 측정 애플리케이션을 위한 다목적 굴절계로 설계되었습니다. 많은 실험실에서는 다양한 샘플을 측정해야 하므로 넓은 범위의 굴절계를 필요로 합니다. J257은 1.26에서 1.72 RI까지의 가장 넓은 굴절률 범위를 측정할 수 있습니다. 이는 이 장비가 단순히 1.33-1.53의 식품 굴절률 범위만을 가진 굴절계로는 측정할 수 없는 다양한 재료를 측정할 수 있다는 것을 의미합니다.
자동으로 쉽고 간단한 굴절계 작동.
굴절계 J257의 작동은 프리즘에 샘플을 놓고 커버를 닫기만 하면 몇 초만에 디지털 화면에서 결과를 읽으면 되는 것처럼 간단합니다. 완전 자동이기 때문에 일치시킬 그림자선이 없고, 작업자의 결정이나 수동 조정이 필요한 접안 렌즈도 없습니다. “안정시 측정”모드를 선택하면 J257은 측정을 시작하기 전에 샘플이 사전 정의 된 온도로 가열 또는 냉각 될 때까지 자동으로 대기합니다.
읽기 쉬운 LCD 인터페이스
대형 사이즈인 7.5cm x 10cm 냉음극 형광(cold cathode fluorescent) 백라이트 디지털 LCD를 통해 눈금, 샘플 온도, 설정 온도, 기온, 시간, 날짜 및 온도 보정 상태를 쉽게 볼 수 있습니다. 모든 기능은 기존 또는 분리형 키보드처럼 마모되거나 분실되지 않는 터치 스크린 패널을 통해 활성화됩니다. 내구성 있는 터치 스크린은 손톱, 날카로운 물체, 화학 물질 및 산에 강합니다.
다양한 데이터 저장 옵션
J257 굴절계는 모든 실험실의 요구 사항과 모든 규정 준수 요구 사항을 충족하기 위해 다양한 데이터 저장 옵션을 제공합니다. 32MB의 on-board 메모리를 갖춘 J257은 단독으로 작동하거나 메모리 스틱을 사용하여 메모리를 확장하거나 데이터를 PC로 쉽게 전송할 수 있습니다. J257은 네트워크에 쉽게 연결하거나 PC와 연결할 수 있습니다. 모든 데이터 저장 옵션은 아래 “Refractometer Data Storage”를 참조하세요
Refractometer Data Storage
굴절계 데이터 저장- J257, J357 및 J457 실험실 굴절계에 적용
임베디드 시스템 – 굴절계 데이터 저장
굴절계 데이터 저장 – 모든 Rudolph 굴절계에는 Windows Embedded를 사용하는 제어 시스템이 장착되어 있습니다. 이 제어 시스템에는 USB 스틱을 사용하여 확장할 수 있는 32MB의 on-board 메모리가 있습니다. 제어 시스템을 네트워크에 직접 연결하여 데이터 저장을 효과적으로 무한대로 만들 수도 있습니다. on-board 솔루션에는 컴퓨터가 필요하지 않으며, 기기는 제공된 터치 스크린을 통해 작동합니다.
Embedded – None Mode
이 모드에서는 날짜가 저장되지 않습니다. 이 기기는 사용자가 노트에 기록하거나 물론 인쇄할 수 있을 만큼 오랫동안 판독값을 표시하지만 다음 측정이 시작되면 이전 측정값은 영원히 사라집니다. 이 모드는 주로 종이 기록을 사용하고 21 CFR 11 준수 문제에 휘말리지 않으려는 제약 실험실에서 사용합니다.
Embedded – Unsecure Mode
이 모드에서는 모든 판독값이 Rudolph 데이터베이스에 저장됩니다. 판독값은 데이터베이스에서 검색하여 언제든지 보거나 인쇄할 수 있습니다. 데이터베이스는 사용자가 설정한 빈도로 외부 소스(USB 또는 네트워크)에 백업됩니다. 날짜의 두 번째 사본은 Adobe, Excel, SAP 및 대부분의 LIMS 시스템과 호환되는 형식을 사용하여 내부 드라이브, USB 또는 네트워크 위치에 저장할 수도 있습니다 . 이 모드는 운영자 세부 정보가 필요하거나 데이터와 함께 저장되지 않기 때문에 안전하지 않은 것으로 간주됩니다. 이 모드는 모든 계측기에 표준으로 제공되며 사용하기 가장 쉽고 다재다능합니다. US FSA 규정 21 CFR part 11을 준수하지 않습니다.
Embedded – Secure Mode
이 모드는 US FDA 21 CFR 11의 요구 사항을 준수하도록 설계되었으며 해당 규칙에 따라 이의가 제기되었음을 보여주는 인증서가 함께 제공됩니다. 데이터와 파일 시스템 모두에 기록하는 기능은 유지됩니다. 구성 가능한 암호와 감사 추적이 추가되었습니다. 결과 변조를 허용하는 많은 기능(예: Excel 형식 사용)이 이 버전에서는 의도적으로 차단됩니다.
데이터 저장 – 외부 시스템
이러한 시스템에서는 계측기의 제어 모듈이 비활성화되고 계측기는 동일한 소프트웨어를 사용하지만 외부 PC에 위치하여 작동합니다. 이런 방식으로 작동하는 데는 많은 단점이 있으며, PC가 필요하기 때문에 비용이 더 많이 들고 벤치 공간을 더 많이 사용합니다. 그러나 회사에서 정의된 네트워크 PC 구성을 가지고 있고 해당 제조업체의 시스템이나 해당 구성의 시스템만 네트워크에 연결할 수 있는 경우 이 방식이 선호되는 경우가 있습니다.
External – None
이 시스템을 공급하는 것은 이론적으로는 가능하지만, 적용 요구 사항은 극히 제한적입니다.
External – Unsecured
이러한 유형의 시스템은 연구 환경에서 유용할 수 있습니다. 외부 PC를 사용하면 계측기가 수학 프로그램과 더 직접적으로 인터페이스될 수 있습니다. 또한 기업 IT 규칙이 PC 유형을 지시하는 비제약 응용 프로그램에서도 응용됩니다.
External – Secure Refractometer Data Storage
이 시스템은 중앙 IT 정책이 모든 네트워크 컴퓨터의 정확한 구성을 지시하는 제약 회사를 위해 설계되었습니다. 이 시스템은 백업을 위해 구성하는 것이 더 쉬운 경우도 있습니다. 날짜가 컴퓨터 하드 드라이브에 직접 저장되고 컴퓨터 하드 드라이브가 이미 회사 전체 프로그램의 일부로 백업되었을 수 있으므로 설치 단계가 하나 줄었습니다.
듀얼 온도 제어 시스템을 갖춘 다재다능한 굴절계
다른 온도 제어 굴절계와 달리 J257 디지털 굴절계는 샘플 위와 아래에서 모두 온도를 제어할 수 있습니다. 샘플 커버는 프리즘과 동일한 온도로 제어되며, 낮추면 타의 탁월한 온도 안정성, 빠른 측정 시간 및 최소한의 증발을 제공하는 온도 제어 마이크로 환경을 제공하도록 설계되었습니다. 옵션에 따라 샘플 커버를 사용하여 측정을 시작할 수도 있습니다. 즉, 작업자는 매일 굴절계 화면을 만질 필요가 전혀 없으며, 커버를 내리기만 하면 자동으로 측정이 시작됩니다.
선택적 샘플 프레서
다른 온도 제어 굴절계와 달리 J257 디지털 굴절계는 샘플 위와 아래에서 모두 온도를 제어할 수 있습니다. 샘플 커버는 프리즘과 동일한 온도로 제어되며, 낮추면 타의 탁월한 온도 안정성, 빠른 측정 시간 및 최소한의 증발을 제공하는 온도 제어 마이크로 환경을 제공하도록 설계되었습니다. 옵션에 따라 샘플 커버를 사용하여 측정을 시작할 수도 있습니다. 즉, 작업자는 매일 굴절계 화면을 만질 필요가 전혀 없으며, 커버를 내리기만 하면 자동으로 측정이 시작됩니다.
굴절계 샘플 커버 옵션에 대한 자세한 정보
굴절계 샘플 커버 옵션
Rudolph J157 모델 이상에 대한 굴절계 샘플 커버 옵션
Rudolph Research Analytical 샘플 커버는 자동 굴절계 에 대한 이중 온도 제어를 개척했으며 여전히 이 모든 중요한 기술에서 시장 리더로 남아 있습니다. 굴절률은 온도에 따라 다릅니다. 그러나 이 변화는 샘플에 따라 다르지만 굴절계가 0.0001의 정확도를 제공하려면 온도 변화가 0.5C 미만이어야 합니다.
EP 굴절계 샘플 커버
EP 샘플 커버는 측정 온도가 주변 온도에 가까운 응용 분야에 적합합니다. 중요한 점은 커버가 전원이 공급되지 않는 단일 부품이고 온도 제어는 샘플 아래에서만 제공된다는 것입니다.
CC 굴절계 샘플 커버
오목 샘플 커버는 프리즘과 동일한 온도로 제어됩니다. 낮추면 샘플을 완전히 둘러싼 온도 제어 마이크로 환경의 상부가 제공됩니다. 따라서 타의 추종을 불허하는 온도 안정성, 빠른 측정 시간 및 최소한의 증발을 제공합니다.
CP 굴절계 샘플 커버
접촉 프레서는 샘플을 측정 영역에 고르게 펼칩니다. 따라서 최상의 측정 결과를 위해 얇은 층이 필요한 무거운 시럽 및 수지와 같은 고점도 샘플 에 이상적입니다 .
다재다능한 굴절계 J257은 완전하고 추적 가능한 Calibration을 제공합니다.
Rudolph J257 Versatile Refractometer는 1포인트, 2포인트 또는 전체 다중 포인트 교정을 제공합니다. 교정은 20°C, 25°C 또는 사용 가능한 범위 내에서 사용자가 선택할 수 있는 온도에서 수행할 수 있습니다. 굴절계가 몇 번 교정되었는지에 관계없이 필요한 경우 항상 초기 공장 교정으로 복원할 수 있습니다.
사용자 구성 가능
실험실의 다재다능한 굴절계는 많은 정보를 표시할 수 있다는 장점이 있지만, 이러한 다재다능함은 추가 버튼과 작업자가 해당 애플리케이션과 관련이 없는 추가 정보를 해석하도록 강요하여 혼란을 초래할 수도 있습니다. J 시리즈 사용자 정의 디지털 굴절계 디스플레이를 사용하면 각 애플리케이션에 필요한 대로 기기를 정확히 구성할 수 있습니다. 사용자 정의 키패드는 “잠금”할 수 있거나 측정 키, 인쇄 키, 제로 키, 고객이 지정한 샘플 키 또는 이들의 조합 등 몇 개의 키만 작동할 수 있습니다. 잠금 기능, 교정 및 기타 기능은 모두 암호로 보호됩니다.
매우 강한 내구성
Rudolph J 시리즈 굴절계는 견고한 실험실 기기로, 높은 기계적 및 화학적 내구성을 위해 사파이어 프리즘을 제공합니다. 샘플 웰은 Techtron 밀봉 링이 있는 내산성 316 스테인리스 스틸로 만들어졌습니다. 교체할 램프가 없으며 LED 광원은 1,000,000회 측정이 보장됩니다.
굴절계 옵션 및 액세서리
- NIST 추적 가능한 교정 액체
- IQ/OQ/PQ 패키지
- 내산성 샘플 웰 및 플레이트
- 인쇄기
- 사전 프로그래밍된 사용자 정의 스케일
- 데이터 캡처 소프트웨어
- 소량이어서 샘플 세척 용이
- 다양한 측정 파장
- 바코드 리더기
확장된 측정 범위를 갖춘 Rudolph Research J257의 영상을 시청하세요.
Technical Data
| Model | J257 Digital Refractometer | |
|---|---|---|
| Measurement Scales | Refractive Index (RI) BRIX (% sucrose) Temperature Corrected BRIX Temperature Corrected RI 100 User Programmable Scales |
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| Measurement Range | 1.26 - 1.72 RI, 0 - 100 BRIX |
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| Resolution | Refractive index 0.0001(Standard), 0.00001 (Optional) BRIX 0.1(Standard), 0.01 (Optional) |
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| Reproducibility | ±0.0001 RI, ±0.1 BRIX |
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| Accuracy | ±0.0001 RI, ±0.1 BRIX |
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| Optical Wavelength | 589.3nm (other wavelengths available) | |
| Prism | Synthetic Sapphire | |
| Light Source | Light Emitting Diode (est. life: >100,000 hrs.) | |
| Response Time | Continuous readout or user programmable delay (i.e. a 25ºC sample can be cooled to 20ºC and measured in 20 seconds) | |
| Communication Interface | 3 USB RS232 ports Cat5 Network (Ethernet) |
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| Analog Control | 0-10 volts, 4-20 mA | |
| Temp. Control Range (within 10C of ambient) | 10ºC - 100ºC *other temperature control options are available -5ºC – 110ºC available with temperature boost option. | |
| Temp. Sensor Accuracy | ±0.05ºC | |
| Ambient Temp. Limit | 5ºC - 40ºC | |
| Temp. Correction Range | 4ºC - 95ºC (for pure sucrose solutions) | |
| Temp. Control | 1, 2 or full multi-point calibration | |
| Calibration | Prism surface and presser | |
| Operating Dimensions | L: 15.25" W: 10" H: 4.5" / 23 lbs. | |
| Shipping Dimensions | L: 26" W: 21" H: 16" / 30 lbs. | |
| Power Requirements | 100-240 volts, 50 Hz - 60 Hz | |